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資料館(鋼材・材料) >> 1.JIS規格(日本工業規格) − JIS規格リスト

JIS規格 >> H.非鉄金属 >> 一般

JIS規格(日本工業規格)で、
  • H.非鉄金属 >> 一般
に分類される、JIS規格リストです。
規格番号、発行年度、規格名称(日本語名、
英語名)が確認できます。
尚、その規格が最新版であるかどうかは必
ずご自分でご確認ください。
JIS規格関連ではこちらもご参考にどうぞ。
>> 資料館(公差)
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>> 勉強部屋


H.非鉄金属 >> 一般

JIS H 0001:1998
アルミニウム,マグネシウム及びそれらの合金 ― 質別記号
Aluminium, magnesium and their alloys -- Temper designation
JIS H 0201:1998
アルミニウム表面処理用語
Glossary of terms used in the surface treatment of aluminium
JIS H 0211:1992
ドライプロセス表面処理用語
Glossary of terms used in surface treatments by dry processing
JIS H 0301:1997
非鉄金属地金のサンプリング,試料調製及び分析検査通則
General rules for sampling, sample preparation and analytical testing of non-ferrous metals
JIS H 0321:1973
非鉄金属材料の検査通則
General rules for inspection of non-ferrous metal materials
JIS H 0400:1998
電気めっき及び関連処理用語
Glossary of terms used in electroplating and related processes
JIS H 0401:1999
溶融亜鉛めっき試験方法
Methods of test for hot dip galvanized coatings
JIS H 0404:1988
電気めっきの記号による表示方法
Graphical symbol for electroplated coating
JIS H 0500:1998
伸銅品用語
Glossary of terms used in wrought copper and copper alloys
JIS H 0501:1986
伸銅品結晶粒度試験方法
Methods for estimating average grain size of wrought copper and copper alloys
JIS H 0502:1986
及び銅合金管のか(渦)流探傷試験方法
Method of eddy current testing for copper and copper alloy pipes and tubes
JIS H 0505:1975
非鉄金属材料の体積抵抗率及び導電率測定方法
Measuring methods for electrical resistivity and conductivity of non-ferrous materials
JIS H 0511:1990
スポンジチタンのブリネル硬さ測定方法
Testing methods for brinell hardness of titanium sponge
JIS H 0515:1992
チタン管の渦流探傷検査方法
Eddy current inspection of titanium pipes and tubes
JIS H 0516:1992
チタン管の超音波探傷検査方法
Ultrasonic inspection of titanium pipes and tubes
JIS H 0517:2004
チタン溶接管の差圧試験方法
Differential pressure testing method of titanium welded tubes
JIS H 0521:1996
アルミニウム及びアルミニウム合金の大気暴露試験方法
Methods for weathering test of aluminium and aluminium alloys
JIS H 0522:1999
アルミニウム鋳物の放射線透過試験方法及び透過写真の等級分類方法
Methods of radiographic test and classification by radiographs of aluminium castings
JIS H 0530:1993
復水器用銅合金管分極抵抗測定方法
Measurement methods of polarization resistance of copper alloy tubes for condenser
JIS H 0541:2003
マグネシウム及びマグネシウム合金のアルカリ性塩水腐食試験方法
Method of alkaline salt corrosion testing for magnesium and magnesium alloys
JIS H 0601:1962
ゲルマニウムの抵抗率測定方法
Testing methods of resistivity for germanium
JIS H 0602:1995
シリコン単結晶及びシリコンウェーハの4探針法による抵抗率測定方法
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
JIS H 0603:1978
ゲルマニウムの光導電減衰法によるライフタイム測定方法
Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
JIS H 0604:1995
シリコン単結晶の光導電減衰法によるライフタイム測定方法
Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
JIS H 0607:1978
熱起電力法によるゲルマニウムの伝導型判定方法
Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
JIS H 0609:1999
選択エッチング法によるシリコンの結晶欠陥の試験方法
Test methods of crystalline defects in silicon by preferential etch techniques
JIS H 0610:1966
ゲルマニウムのエッチピット測定方法
Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
JIS H 0611:1994
シリコンウェーハの厚さ,厚さむら及びボウの測定方法
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
JIS H 0612:1975
シリコン単結晶ウェーハの4探針法による抵抗率測定方法
Testing methods of resistivity for single crystal silicon wafers with four point probe
JIS H 0613:1978
シリコンスライスウェーハ及びラップウェーハの外観検査
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
JIS H 0614:1996
シリコン鏡面ウェーハの外観検査
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
JIS H 0615:1996
フォトルミネッセンスによるシリコン結晶中の不純物濃度測定方法
Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy
TR H 0001:1997
超伝導体の試験方法 ― 直流臨界電流の試験方法 ― 安定化ニオブ・チタン合金複合超伝導線データ集
SUPERCONDUCTIVITY -- Test method Part 1: Critical current -- Section 1: DC critical current of Cu/Nb-Ti composite superconductors Data Book
TR H 0002:2003
多孔質金属材料圧縮試験片 ― アルミニウム及びアルミニウム合金
Test pieces for compressive test for porous metallic materials -- Aluminium and aluminium alloys




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