小物・薄板の精密板金加工、試作加工 (有)長井技研

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機械計測
ゲージ,マイクロメータ,巻尺,定規,長さ,角度,面・形状,測定,方法,方式,幾何特性等

JIS規格(日本工業規格)で、
  • 機械計測
に関連する、JIS規格をリストアップしてまとめ
ています。
※原則として、日本規格協会から発行される
JISハンドブック(機械計測)に収録されている
規格を一覧にしています。
JIS規格関連ではこちらもご参考にどうぞ。
>> 資料館(鋼材・材料)
>> 資料館(公差)
>> 資料館(JIS用語)
>> 勉強部屋



【 ゲージ 】

JIS B0251
メートルねじ用限界ゲージ

JIS B0255
ユニファイねじ用限界ゲージ

JIS B0253
管用テーパねじゲージ

JIS B0254
管用平行ねじゲージ

JIS B0261
平行ねじゲージ−測定方法

JIS B0262
テーパねじゲージの検査方法

JIS B3102
ねじ用限界ゲージの形状及び寸法

JIS B7420
限界プレーンゲージ

JIS B3301
モールステーパゲージ

JIS B0271
ねじ測定用三針及びねじ測定用四針


長さ測定

JIS B7506
ブロックゲージ

JIS B7541
標準尺

JIS B7545
テストバー

JIS B7503
ダイヤルゲージ

JIS B7533
てこ式ダイヤルゲージ

JIS B7519
指針測微器

JIS B7515
シリンダゲージ

JIS B7502
マイクロメータ

JIS B7520
指示マイクロメータ

JIS B7544
デプスマイクロメータ

JIS B7507
ノギス

JIS B7531
歯厚ノギス

JIS B7517
ハイトゲージ

JIS B7518
デプスゲージ

JIS B7524
すきまゲージ

JIS B7535
流量式空気マイクロメータ

JIS B7536
電気マイクロメータ

JIS B7153
測定顕微鏡

JIS B7516
金属製直尺

JIS B7534
金属製角度直尺

JIS B7512
鋼製巻尺

JIS B7522
繊維製巻尺

JIS B7450
ディジタルスケール

JIS B7440-1
製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第1部:用語

JIS B7440-2
製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第2部:寸法測定

JIS B7440-3
製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第3部:ロータリテーブル付き座標測定機

JIS B7440-4
製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第4部:スキャニング測定

JIS B7440-5
製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第5部:マルチスタイラス測定

JIS B7440-6
製品の幾何特性仕様(GPS)−座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査−第6部:ソフトウェア検査

JIS K6895
四ふっ化エチレン樹脂製品の寸法測定方法

JIS K7130
プラスチック−フィルム及びシート−厚さ測定方法


角度測定

JIS B7510
精密水準器

JIS B7523
サインバー

JIS B7538
オートコリメータ

JIS B7540
Vブロック

JIS B7432
角度標準用多面鏡


面・形状測定

JIS B0659-1
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式;測定標準−第1部:標準片

JIS B0601
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメータ

JIS B0610
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式−転がり円うねりの定義及び表示

JIS B0631
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式−モチーフパラメータ

JIS B0632
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式−位相補償フィルタの特性

JIS B0633
製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状:輪郭曲線方式−表面性状評価の方式及び手順

JIS B0651
製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状:輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性

JIS B0652
光波干渉式表面粗さ測定器

JIS B0670
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の校正

JIS B0671-1
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価−第1部:フィルタ処理及び測定条件

JIS B0671-2
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価−第2部:線形表現の負荷曲線による高さの特性評価

JIS B0671-3
製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状:輪郭曲線方式;プラトー構造表面の特性評価−第3部:正規確率紙上の負荷曲線による高さの特性評価

JIS B7513
精密定盤

JIS B7514
直定規

JIS B7526
直角定規

JIS B7539
円筒スコヤ

JIS B7430
オプチカルフラット

JIS B7431
オプチカルパラレル

JIS B7184
測定投影機

JIS B7433
ニュートンゲージ

JIS B7451
真円度測定機

TR B0003
製図―幾何公差表示方式―形状,姿勢,位置及び振れの公差方式―検証の原理と方法の指針


基本(幾何特性仕様)

JIS B0401-1
寸法公差及びはめあいの方式―第1部:公差,寸法差及びはめあいの基礎

JIS B0401-2
寸法公差及びはめあいの方式―第2部:穴及び軸の公差等級並びに寸法許容差の表

JIS B0405
普通公差−第1部:個々に公差の指示がない長さ寸法及び角度寸法に対する公差

JIS B0419
普通公差−第2部:個々に公差の指示がない形体に対する幾何公差

JIS B0621
幾何偏差の定義及び表示

JIS B0021
製品の幾何特性仕様(GPS)−幾何公差表示方式−形状,姿勢,位置及び振れの公差表示方式

JIS B0022
幾何公差のためのデータム

JIS B0023
製図−幾何公差表示方式−最大実体公差方式及び最小実体公差方式

JIS B0025
製図―幾何公差表示方式―位置度公差方式

JIS B0026
製図―寸法及び公差の表示方式―非剛性部品

JIS B0612
製品の幾何特性仕様 (GPS) −円すいのテーパ比及びテーパ角度の基準値

JIS B0614
円すい公差方式

JIS B0616
円すいはめあい方式

JIS B0615
製品の幾何特性仕様 (GPS) −プリズムの角度及びこう配の基準値

JIS B0641-1
製品の幾何特性仕様 (GPS) −製品及び測定装置の測定による検査−第1部:仕様に対する合否判定基準

JIS B0672-1
製品の幾何特性仕様(GPS)−形体−第1部:一般用語及び定義

JIS B0672-2
製品の幾何特性仕様(GPS)−形体−第2部:円筒及び円すいの測得中心線,測得中心面並びに測得形体の局部寸法


関連規格

JIS Z8103
計測用語

JIS Z8401
数値の丸め方

JIS Z8601
標準数

JIS Z8703
試験場所の標準状態




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