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電子
電子部品,電子機器,電気,光ファイバ,コンデンサ,抵抗器,コネクタ,太陽電池,ディスク,プリント配線等

JIS規格(日本工業規格)で、
  • 電子
に関連する、JIS規格をリストアップしてまとめ
ています。
※原則として、日本規格協会から発行される
JISハンドブック(電子T、U、V)に収録され
ている規格を一覧にしています。
JIS規格関連ではこちらもご参考にどうぞ。
>> 資料館(鋼材・材料)
>> 資料館(公差)
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>> 勉強部屋



【 環境試験 】

JIS C0025
環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

JIS C0099
環境試験方法−電気・電子−鉛フリーソルダペーストを用いた表面実装部品(SMD)のはんだ付け性試験方法−平衡法

JIS C5070
表面実装技術−表面実装部品 (SMD) の輸送及び保管条件−指針

JIS C60068-1
環境試験方法−電気・電子−通則

JIS C60068-2-1
環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法

JIS C60068-2-2
環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)−試験方法

JIS C60068-2-3
環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法

JIS C60068-2-6
環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法

JIS C60068-2-7
環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法

JIS C60068-2-11
環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法

JIS C60068-2-13
環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

JIS C60068-2-17
環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法

JIS C60068-2-18
環境試験方法−電気・電子−耐水性試験及び指針

JIS C60068-2-20
環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法

JIS C60068-2-21
環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法

JIS C60068-2-27
環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

JIS C60068-2-29
環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法

JIS C60068-2-30
環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法

JIS C60068-2-31
環境試験方法−電気・電子−面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法

JIS C60068-2-32
環境試験方法−電気・電子−自然落下試験方法

JIS C60068-2-38
環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法

JIS C60068-2-39
環境試験方法−電気・電子−第2−39部:低温,減圧及び高温高湿一連複合試験

JIS C60068-2-40
環境試験方法−電気・電子−低温・減圧複合試験方法

JIS C60068-2-41
環境試験方法−電気・電子−高温・減圧複合試験方法

JIS C60068-2-42
環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法

JIS C60068-2-43
環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験方法

JIS C60068-2-45
環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

JIS C60068-2-46
環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の硫化水素試験−指針

JIS C60068-2-47
環境試験方法−電気・電子−動的試験での供試品の取付方法

JIS C60068-2-48
環境試験方法−電気・電子−第2−48部:保存の影響をシミュレートするために,環境試験方法に関するJIS 規格群の試験を適用する場合の指針

JIS C60068-2-49
環境試験方法−電気・電子−接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針

JIS C60068-2-50
環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温/振動(正弦波)複合試験

JIS C60068-2-51
環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する高温/振動(正弦波)複合試験

JIS C60068-2-52
環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶液)

JIS C60068-2-53
環境試験方法―電気・電子―発熱供試品及び非発熱供試品に対する低温・高温/振動(正弦波)複合試験の指針

JIS C60068-2-54
環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法(平衡法)

JIS C60068-2-57
環境試験方法−電気・電子−時刻歴振動試験方法

JIS C60068-2-58
環境試験方法―電気・電子―表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

JIS C60068-2-59
環境試験方法−電気・電子−サインビート振動試験方法

JIS C60068-2-60
環境試験方法−電気・電子−混合ガス流腐食試験

JIS C60068-2-61
環境試験方法−電気・電子−一連耐候性試験

JIS C60068-2-64
環境試験方法―電気・電子―広帯域ランダム振動試験方法及び指針

JIS C60068-2-66
環境試験方法−電気・電子−高温高湿,定常(不飽和加圧水蒸気)

JIS C60068-2-67
環境試験方法−電気・電子−基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験

JIS C60068-2-68
環境試験方法−電気・電子−砂じん(塵)試験

JIS C60068-2-75
環境試験方法−電気・電子−第2−75部:ハンマ試験

JIS C60068-2-77
環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方法

JIS C60068-2-78
環境試験方法−電気・電子−第2−78部:高温高湿(定常)試験方法

JIS C60068-3-1
環境試験方法−電気・電子−低温試験及び高温試験を理解するための必す(須)情報

JIS C60068-3-2
環境試験方法−電気・電子−第3−2部:温度/減圧複合試験を理解するための必す(須)情報

JIS C60068-3-3
環境試験方法−電気・電子−機器の耐震試験方法の指針

JIS C60068-3-4
環境試験方法−電気・電子−第3−4部:高温高湿試験の指針

JIS C60068-3-5
環境試験方法―電気・電子―第3―5部:温度試験槽の性能確認の指針

JIS C60355
環境試験方法−電気・電子−大気腐食に対する加速試験−指針


【 環境条件の分類 】

JIS C60721-1
環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさの分類

JIS C60721-2-1
環境条件の分類 自然環境の条件−温度及び湿度

JIS C60721-2-2
環境条件の分類 自然環境の条件−降水及び風

JIS C60721-2-3
環境条件の分類 自然環境の条件―気圧

JIS C60721-2-4
環境条件の分類−自然環境の条件−日射及び温度

JIS C60721-2-5
環境条件の分類−第2−5部:自然環境の条件−じんあい,砂及び塩霧

JIS C60721-3-0
環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 通則

JIS C60721-3-1
環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 保管条件

JIS C60721-3-2
環境条件の分類環境パラメータとその厳しさの分類−輸送条件

JIS C60721-3-3
環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋内固定使用の条件

JIS C60721-3-4
環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 屋外固定使用の条件

JIS C60721-3-5
環境条件の分類−第3−5部:環境パラメータとその厳しさのグループ別分類−車載機器の条件

JIS C60721-3-6
環境条件の分類―環境パラメータとその厳しさのグループ別分類―第3―6部:船舶搭載機器の条件

JIS C60721-3-7
環境条件の分類−環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 携帯及び移動使用の条件

JIS C60721-3-9
環境条件の分類 環境パラメータとその厳しさのグループ別分類 製品内部の環境条件


【 耐火性試験 】

JIS C60695-1-1
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 電気製品の火災危険評価指針−一般指針

JIS C60695-1-2
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針−電子部品)

JIS C60695-1-3
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験(電気製品・電子製品の火災アセスメントに対する要求事項及び試験方法作成指針一プリセレクションの用い方)

JIS C60695-2-2
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 ニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法

JIS C60695-2-3
環境試験方法(電気・電子)ヒータによる不完全接続耐火性試験方法

JIS C60695-2-4-0
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 拡散炎及び予混炎試験方法

JIS C60695-2-10
耐火性試験 ―電気・電子―グローワイヤ試験装置及び一般試験方法

JIS C60695-2-11
耐火性試験―電気・電子―最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

JIS C60695-2-12
耐火性試験―電気・電子―材料に対するグローワイヤ燃焼性試験方法

JIS C60695-2-13
耐火性試験―電気・電子―材料に対するグローワイヤ着火性試験方法

JIS C60695-2-20
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験グローイング/ホットワイヤ試験法:ホットワイヤ巻付け線による材料の着火性試験

JIS C60695-4
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験用語

JIS C60695-5-1
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 燃焼放出物による腐食損傷の評価−一般事項

JIS C60695-5-2
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験:燃焼放出物による腐食損傷の評価−試験方法の選択及び適用の指針

JIS C60695-6-1
耐火性試験―電気・電子―第6―1部:煙不透過性―一般指針

JIS C60695-6-30
環境試験方法−電気・電子−火災危険,火災のもつ潜在的・偶発的危険の試験方法−火災に遭った電気製品からの煙による光の不透過度に起因する視界のさえぎりの評価に関する指針及び試験方法:小規模静的試験方法−煙による光の不透過度測定−試験装置の記述

JIS C60695-6-31
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験−煙による光の不透過度の測定−小規模静的試験方法−材料

JIS C60695-7-1
環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 電気・電子製品の火災による毒物危険性を最小にするための指針 通則

JIS C60695-8-1
耐火性試験−電気・電子−第8−1部:発熱 −一般指針

JIS C60695-9-1
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験−炎の表面伝ぱ(播)−一般指針

JIS C60695-10-2
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 ボールプレッシャー試験方法

JIS C60695-10-3
耐火性試験−電気・電子−第10−3部:異常発生熱−成形応力解放変形試験

JIS C60695-11-2
環境試験方法−電気・電子−耐火性試験 公称1kW予混試験用炎及び指針

JIS C60695-11-3
環境試験方法―電気・電子―耐火性試験 公称500W試験用炎及び指針

TSC 0034
耐火性試験−電気・電子−発熱−試験方法の概要及び適用性(解説収録)

TSC 0035
耐火性試験−電気・電子−炎の表面伝ぱ−試験方法の概要及び適用性(解説収録)

TRC 0029
耐火性試験―電気・電子―燃焼放出物の毒性―試験結果の利用及び解釈


【 プリント配線板 】

JIS C5012
プリント配線板試験方法

JIS C5016
フレキシブルプリント配線板試験方法

JIS C5603
プリント回路用語

JIS C6471
フレキシブルプリント配線板用銅張積層板試験方法

JIS C6481
プリント配線板用銅張積層板試験方法

JIS C6515
プリント配線板用銅はく

JIS C6520
多層プリント配線板用プリプレグ通則

JIS C6521
多層プリント配線板用プリプレグ試験方法


【 半導体 】

JIS C7030
トランジスタ測定方法

JIS C7031
小信号用半導体ダイオード測定方法

JIS C7032
トランジスタ通則


【 光受動部品 】

JIS C5860
空間ビーム光用受動部品通則

JIS C5870
干渉フィルタ通則

JIS C5871
干渉フィルタ試験方法

JIS C5872
空間ビーム光用光アイソレータ通則

JIS C5873
空間ビーム光用光アイソレータ試験方法

JIS C5900
光伝送用受動部品通則

JIS C5901
光伝送用受動部品試験方法

JIS C5910
光ブランチングデバイス通則

JIS C5912
波長スイッチ通則

JIS C5914
光サーキュレータ通則

JIS C5916
光伝送用分散補償器通則

JIS C5920
光減衰器通則

JIS C5930
光スイッチ通則

JIS C5931
光スイッチ試験方法

JIS C5932
光伝送用光アイソレータ通則

JIS C5933
光伝送用光アイソレータ試験方法

JIS C5934
光伝送用レンズ通則

JIS C5935
光伝送用レンズ試験方法


【 光能動部品 】

JIS C5940
光伝送用半導体レーザ通則

JIS C5941
光伝送用半導体レーザ測定方法

JIS C5942
再生及び記録用半導体レーザ通則

JIS C5943
再生及び記録用半導体レーザ測定方法

JIS C5944
光伝送用半導体レーザモジュール通則

JIS C5945
光伝送用半導体レーザモジュール測定方法

JIS C5946
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール通則

JIS C5947
光ファイバ増幅器用半導体レーザモジュール測定方法

JIS C5950
光伝送用発光ダイオード通則

JIS C5951
光伝送用発光ダイオード測定方法

JIS C5990
光伝送用フォトダイオード通則

JIS C5991
光伝送用フォトダイオード測定方法


【 光コネクタ 】

JIS C5961
光ファイバコネクタ試験方法

JIS C5962
光ファイバコネクタ通則

JIS C5963
光ファイバコード付き光コネクタ通則

JIS C5970
F01形単心光ファイバコネクタ

JIS C5971
F02形単心光ファイバコネクタ

JIS C5972
F03形単心光ファイバコネクタ

JIS C5973
F04形光ファイバコネクタ

JIS C5974
F05形単心光ファイバコネクタ

JIS C5975
F06形単心光ファイバコネクタ

JIS C5976
F07形2心光ファイバコネクタ

JIS C5977
F08形2心光ファイバコネクタ

JIS C5978
F09形単心光ファイバコネクタ

JIS C5979
F10形単心光ファイバコネクタ

JIS C5980
F11形光ファイバコネクタ

JIS C5981
F12形多心光ファイバコネクタ

JIS C5982
F13形多心光ファイバコネクタ

JIS C5983
F14形光ファイバコネクタ

JIS C5984
F15形光ファイバコネクタ

JIS C5985
F16形光ファイバコネクタ

JIS C5987
F18形光ファイバコネクタ

JIS C5988
F19形光ファイバコネクタ


【 光複合部品 】

JIS C6110
低速光伝送リンク用送・受信モジュール通則

JIS C6111
低速光伝送リンク用送・受信モジュール測定方法

JIS C6112
中・高速光伝送リンク用送・受信モジュール通則

JIS C6113
中・高速光伝送リンク用送・受信モジュール測定方法

JIS C6114-1
光変調器モジュール通則

JIS C6114-2
光変調器モジュール測定方法

JIS C6115-1
pin―FETモジュール通則

JIS C6115-2
pin―FETモジュール測定方法


【 光ファイバ 】

JIS C6820
光ファイバ通則

JIS C6821
光ファイバ機械特性試験方法

JIS C6822
マルチモード光ファイバ構造パラメータ試験方法

JIS C6823
光ファイバ損失試験方法

JIS C6824
マルチモード光ファイバ帯域試験方法

JIS C6825
シングルモード光ファイバ構造パラメータ試験方法

JIS C6827
光ファイバ波長分散試験方法

JIS C6830
光ファイバコード

JIS C6831
光ファイバ心線

JIS C6832
石英系マルチモード光ファイバ素線

JIS C6833
多成分系マルチモード光ファイバ素線

JIS C6834
プラスチッククラッドマルチモード光ファイバ素線

JIS C6835
石英系シングルモード光ファイバ素線

JIS C6836
全プラスチックマルチモード光ファイバコード

JIS C6837
全プラスチックマルチモード光ファイバ素線

JIS C6838
テープ形光ファイバ心線

JIS C6839
テープ形光ファイバコード

JIS C6840
光ファイバ偏波クロストーク試験方法

JIS C6841
光ファイバ心線融着接続方法

JIS C6850
光ファイバケーブル通則

JIS C6851
光ファイバケーブル特性試験方法

JIS C6861
全プラスチックマルチモード光ファイバ機械特性試験方法

JIS C6862
全プラスチックマルチモード光ファイバ構造パラメータ試験方法

JIS C6863
全プラスチックマルチモード光ファイバ損失試験方法

JIS X5150
構内情報配線システム

TSC 0017
ビルディング内光配線システム


【 光測定器 】

JIS C6180
レーザ出力測定方法

JIS C6181
レーザ放射パワー及びエネルギー測定用検出器,測定器及び測定装置

JIS C6182
レーザビーム用光パワーメータ試験方法

JIS C6183
光スペクトラムアナライザ試験方法

JIS C6184
光ファイバ用光パワーメータ試験方法

JIS C6185
オプティカル タイム ドメイン リフレクトメータ(OTDR)試験方法

JIS C6186
光ファイバ用光パワーメータ校正方法

JIS C6187
光波長計試験方法

JIS C6188
測定用光減衰器試験方法

JIS C6189
光反射減衰量測定器試験方法

JIS C6190
光ファイバ用光源試験方法

JIS C6191
波長可変光源試験方法

JIS C6828
光ファイバ構造パラメータ測定器校正方法

JIS C6829
光ファイバ波長分散測定器校正方法


【 光増幅器 】

JIS C6121
光ファイバ増幅器通則

JIS C6122-1
光ファイバ増幅器−測定方法−第1部:利得パラメータ測定方法

JIS C6122-2
光ファイバ増幅器−測定方法−第2部:パワーパラメータ測定方法

JIS C6122-3
光ファイバ増幅器―測定方法―第3部:雑音指数パラメータ測定方法

JIS C6122-3-2
光増幅器―測定方法―第3―2部:雑音指数パラメータ―電気スペクトラムアナライザ試験方法

JIS C6122-5-1
光ファイバ増幅器―測定方法―第5―1部:光反射率パラメータ測定方法−光スペクトラムアナライザを用いた測定方法

JIS C6122-6
光ファイバ増幅器−測定方法−第6部:漏れ励起光パラメータ測定方法

JIS C6122-7
光ファイバ増幅器−測定方法−第7部:波長帯域外挿入損失測定方法

JIS C6123-1
光増幅器−性能仕様テンプレート−第1部:ディジタル用光ファイバ増幅器

TRC 0021
光ファイバ増幅器―測定方法―第3−1 部:雑音指数パラメータ測定方法―光スペクトラムアナライザ試験方法


【 OCR 】

JIS X9001
光学式文字認識のための字形(英数字)

JIS X9002
磁気インキ文字読取用字体及び印字仕様 (E13B)

JIS X9003
光学式文字認識のための字形(片仮名)

JIS X9004
光学式文字認識のための印字仕様

JIS X9005
光学式文字認識のための手書き文字(片仮名)

JIS X9006
光学式文字認識のための手書き文字(数字)

JIS X9007
光学式文字認識のための手書き文字(英字)

JIS X9008
光学式文字認識のための手書き文字(記号)

JIS X9009
光学式文字認識のための手書き文字(平仮名)

JIS X9010
機械読取り可能文字の符号(OCR及びMICR)

JIS X9101
POSシステム用OCR値札の寸法及び印刷(印字)仕様


【 光ディスク 】

JIS X6241
120mmDVD−再生専用ディスク

JIS X6242
80mmDVD−再生専用ディスク

JIS X6243
120 mm DVD−書換形ディスク(DVD-RAM)

JIS X6244
120 mm DVD-RAMディスク用ケース

JIS X6245
80mm(1.23GB/面)及び120mm(3.95GB/面)DVD-レコーダブルディスク(DVD-R)

JIS X6261
130mm追記形光ディスクカ−トリッジ

JIS X6271
130mm書換形光ディスクカートリッジ

JIS X6272
90mm書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ

JIS X6273
130mm/1.3GB光ディスクカートリッジ

JIS X6274
130mm/2GB光ディスクカートリッジ

JIS X6275
90mm/230MB光ディスクカートリッジ

JIS X6276
130mm/2.6GB光ディスクカートリッジ

JIS X6277
90mm/640MB光ディスクカートリッジ

JIS X6278
130mm/5.2GB―光ディスクカートリッジ

JIS X6281
120mm再生専用形光ディスク(CD―ROM)

JIS X6291
90mm/1.3GB光ディスクカートリッジ(相変化光記録)

JIS X6292
120mm/650MB光ディスクカートリッジ(相変化光記録,PDフォーマット)


【 レーザ安全 】

JIS C6801
レーザ安全用語

JIS C6802
レーザ製品の安全基準

JIS C6803
レーザ製品の安全―光ファイバ通信システムの安全


【 太陽電池 】

JIS C8907
太陽光発電システムの発電電力量推定方法

JIS C8911
二次基準結晶系太陽電池セル

JIS C8912
結晶系太陽電池測定用ソーラシミュレータ

JIS C8913
結晶系太陽電池セル出力測定方法

JIS C8914
結晶系太陽電池モジュール出力測定方法

JIS C8915
結晶系太陽電池分光感度特性測定方法

JIS C8916
結晶系太陽電池セル・モジュールの出力電圧・出力電流の温度係数測定方法

JIS C8917
結晶系太陽電池モジュールの環境試験方法及び耐久性試験方法

JIS C8918
結晶系太陽電池モジュール

JIS C8919
結晶系太陽電池セル・モジュール屋外出力測定方法

JIS C8920
開放電圧による結晶系太陽電池の等価セル温度測定方法

JIS C8931
二次基準アモルファス太陽電池セル

JIS C8932
二次基準アモルファス太陽電池サブモジュール

JIS C8933
アモルファス太陽電池測定用ソーラシミュレータ

JIS C8934
アモルファス太陽電池セル出力測定方法

JIS C8935
アモルファス太陽電池モジュール出力測定方法

JIS C8936
アモルファス太陽電池分光感度特性測定方法

JIS C8937
アモルファス太陽電池出力電圧・出力電流の温度係数測定方法

JIS C8938
アモルファス太陽電池モジュールの環境試験方法及び耐久性試験方法

JIS C8939
アモルファス太陽電池モジュール

JIS C8940
アモルファス太陽電池セル・モジュール屋外出力測定方法

JIS C8990
地上設置の結晶シリコン太陽電池(PV)モジュール ― 設計適格性確認及び形式認証のための要求事項

JIS C8991
地上設置の薄膜太陽電池(PV)モジュール ― 設計適格性確認及び形式認証のための要求事項


【 基本 】

JIS C0806-1
自動実装用部品のパッケージング−第1部:アキシャルリード線端子部品の連続テープによるパッケージング

JIS C0806-2
自動実装用部品のパッケージング−第2部:ラジアルリード線端子部品の連続テープによるパッケージング

JIS C0806-3
自動実装用部品のパッケージング−第3部:表面実装部品の連続テープによるパッケージング

JIS C0806-6
自動実装部品のパッケージング―第6部:表面実装部品用バルクケースによるパッケージング

JIS C0807
バーコード及び二次元シンボルを使用した電子部品用容器包装ラベル

JIS C2170
静電気電荷蓄積を防止する固体平面材料の抵抗及び抵抗率試験方法

JIS C5062
抵抗器及びコンデンサの表示記号

JIS C5063
抵抗器及びコンデンサの標準数列

JIS C5070
表面実装技術−表面実装部品 (SMD) の輸送及び保管条件−指針

JIS C5602
電子機器用受動部品用語

TRC 0027-1
静電気現象からの電子デバイスの保護―第1 部:一般要求事項

TRC 0027-2
静電気現象からの電子デバイスの保護―第2 部:使用者のための指針

TRC 0036
静電気―測定方法―帯電性の測定


【 コンデンサ 】

JIS C5101-1
電子機器用固定コンデンサ−第1部:品目別通則

JIS C5101-2
電子機器用固定コンデンサ−第2部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ

JIS C5101-2-1
電子機器用固定コンデンサ−第2部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-3
電子機器用固定コンデンサ−第3部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS C5101-3-1
電子機器用固定コンデンサ−第3部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ 評価水準E

JIS C5101-4
電子機器用固定コンデンサ−第4部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS C5101-4-1
電子機器用固定コンデンサ−第4部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-4-2
電子機器用固定コンデンサ−第4部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-8
電子機器用固定コンデンサ−第8部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類1

JIS C5101-8-1
電子機器用固定コンデンサ−第8部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類1 評価水準E

JIS C5101-9
電子機器用固定コンデンサ−第9部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類2

JIS C5101-9-1
電子機器用固定コンデンサ−第9部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類2 評価水準E

JIS C5101-11
電子機器用固定コンデンサ−第11部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C5101-11-1
電子機器用固定コンデンサ−第11部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-13
電子機器用固定コンデンサ−第13部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS C5101-13-1
電子機器用固定コンデンサ−第13部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-14
電子機器用固定コンデンサ−第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS C5101-14-1
電子機器用固定コンデンサ−第14部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準D

JIS C5101-15
電子機器用固定コンデンサ−第15部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS C5101-15-1
電子機器用固定コンデンサ−第15部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-15-2
電子機器用固定コンデンサ−第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-15-3
電子機器用固定コンデンサ−第15部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-16
電子機器用固定コンデンサ−第16部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS C5101-16-1
電子機器用固定コンデンサ−第16部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ 評価水準E

JIS C5101-17
電子機器用固定コンデンサ−第17部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ

JIS C5101-17-1
電子機器用固定コンデンサ−第17部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ 評価水準E

JIS C5101-18
電子機器用固定コンデンサ−第18部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO2) 及び非固体電解チップコンデンサ

JIS C5101-18-1
電子機器用固定コンデンサ−第18部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO2) 電解チップコンデンサ 評価水準E

JIS C5101-18-2
電子機器用固定コンデンサ−第18部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価水準E

JIS C5101-20
電子機器用固定コンデンサ−第20部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直流コンデンサ

JIS C5101-20-1
電子機器用固定コンデンサ−第20部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ直流コンデンサ 評価水準EZ

JIS C5101-21
電子機器用固定コンデンサ―第21部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1

JIS C5101-21-1
電子機器用固定コンデンサ―第21―1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類1 評価水準EZ

JIS C5101-22
電子機器用固定コンデンサ―第22部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2

JIS C5101-22-1
電子機器用固定コンデンサ―第22―1部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類2 評価水準EZ

JIS C6462
電子機器用可変コンデンサの試験方法


【 抵抗器 】

JIS C5201-1
電子機器用固定抵抗器−第1部:品目別通則

JIS C5201-2
電子機器用固定抵抗器−第2部:品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS C5201-2-1
電子機器用固定抵抗器−第2部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器 評価水準E

JIS C5201-2-2
電子機器用固定抵抗器−第2部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器 評価水準F

JIS C5201-4
電子機器用固定抵抗器−第4部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS C5201-4-1
電子機器用固定抵抗器−第4部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器 評価水準E

JIS C5201-4-2
電子機器用固定抵抗器−第4部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器 評価水準F

JIS C5201-4-3
電子機器用固定抵抗器−第4部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き 評価水準H

JIS C5201-5
電子機器用固定抵抗器−第5部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS C5201-5-1
電子機器用固定抵抗器−第5部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器 評価水準E

JIS C5201-5-2
電子機器用固定抵抗器−第5部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器 評価水準F

JIS C5201-6
電子機器用固定抵抗器−第6部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C5201-6-1
電子機器用固定抵抗器−第6部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 同一抵抗値及び同一定格電力 評価水準E

JIS C5201-6-2
電子機器用固定抵抗器−第6部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器 異種抵抗値又は異種定格電力 評価水準E

JIS C5201-8
電子機器用固定抵抗器−第8部:品種別通則:チップ固定抵抗器

JIS C5201-8-1
電子機器用固定抵抗器−第8部:ブランク個別規格:チップ固定抵抗器 評価水準E

JIS C5201-9
電子機器用固定抵抗器―第9部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C5201-9-1
電子機器用固定抵抗器―第9―1部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器―評価水準EZ

JIS C5260-1
電子機器用可変抵抗器−第1部:品目別通則

JIS C5260-2
電子機器用可変抵抗器−第2部:品種別通則:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器

JIS C5260-2-1
電子機器用可変抵抗器−第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準E

JIS C5260-2-2
電子機器用可変抵抗器−第2部:ブランク個別規格:ねじ駆動形及び回転形半固定可変抵抗器 評価水準F

JIS C5260-3
電子機器用可変抵抗器−第3部:品種別通則:回転形精密級可変抵抗器

JIS C5260-3-1
電子機器用可変抵抗器−第3部:ブランク個別規格:回転形精密級可変抵抗器 評価水準E

JIS C5260-4
電子機器用可変抵抗器−第4部:品種別通則:単回転電力形可変抵抗器

JIS C5260-4-1
電子機器用可変抵抗器−第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準E

JIS C5260-4-2
電子機器用可変抵抗器−第4部:ブランク個別規格:単回転電力形可変抵抗器 評価水準F

JIS C5260-5
電子機器用可変抵抗器−第5部:品種別通則:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器

JIS C5260-5-1
電子機器用可変抵抗器−第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準E

JIS C5260-5-2
電子機器用可変抵抗器−第5部:ブランク個別規格:単回転低電力形巻線及び非巻線可変抵抗器 評価水準F

JIS C2570-1
直熱形NTCサーミスタ―第1部:通則


【 水晶振動子 】

JIS C6701
水晶振動子通則

JIS C6703
水晶フィルタ通則

JIS C6704
人工水晶

JIS C6710
水晶発振器品目別通則


【 変成器・インダクタ 】

JIS C2514
E形フェライト磁心

JIS C2516
ポット形フェライト磁心

JIS C2569
リング形フェライト磁心

JIS C5310
電子機器用電源変圧器品目別通則

JIS C6436
電子機器用小形電源変圧器

JIS C5320
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器通則

JIS C5311
電子機器用電源変圧器試験方法

JIS C5321
電子機器用高周波コイル及び中間周波変成器試験方法

JIS C6435
低周波変成器及びコイル試験方法

JIS C62024-1
高周波誘導部品―電気的特性及び測定方法―第1部:ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ

JIS C62025-1
高周波誘導部品―非電気特性及び測定方法―第1部:電子機器及び通信機器用表面実装固定インダクタ


【 接続部品 】

JIS C5401
電子機器用コネクタ通則

JIS C5401-1
電子機器用コネクタ−第1部:品目別通則−能力認証

JIS C5401-2
電子機器用コネクタ−第2部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

JIS C5401-2-001
電子機器用コネクタ―第2―001部:丸形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格

JIS C5401-3
電子機器用コネクタ−第3部:品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C5401-3-001
電子機器用コネクタ−第3−001部:角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C5401-4
電子機器用コネクタ−第4部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付

JIS C5401-4-001
電子機器用コネクタ−第4−001部:プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C5402
電子機器用コネクタ試験方法

JIS C5402-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1部:一般

JIS C5402-1-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−1部:一般試験−試験1a:外観

JIS C5402-1-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−2部:一般試験−試験1b:寸法及び質量

JIS C5402-1-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-3部:一般検査−試験1c:電気的接触長

JIS C5402-1-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-4部:一般検査−試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)

JIS C5402-1-100
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1−100部:一般−試験一覧

JIS C5402-2-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2−1部:導通及び接触抵抗試験−試験2a:接触抵抗−ミリボルトレベル法

JIS C5402-2-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2−2部:導通及び接触抵抗試験−試験2b:接触抵抗−規定電流法

JIS C5402-2-3
電子機器用コネクタ―試験及び測定−第2−3部:導通及び接触抵抗試験−試験2c:接触抵抗の変動

JIS C5402-2-5
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第2−5部:導通及び接触抵抗試験−試験2e:コンタクトディスターバンス

JIS C5402-2-6
電子機器用コネクタ―試験及び測定−第2−6部:導通及び接触抵抗試験−試験2f:ハウジング(シェル)の導通性

JIS C5402-3-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第3−1部:絶縁試験−試験3a:絶縁抵抗

JIS C5402-4-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4−1部:電圧ストレス試験−試験4a:耐電圧

JIS C5402-4-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4−2部:電圧ストレス試験−試験4b:部分放電

JIS C5402-4-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第4−3部:電圧ストレス試験−試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル)

JIS C5402-5-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第5−1部:電流容量試験−試験5a:温度上昇

JIS C5402-5-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第5−2部:電流容量試験−試験5b:電流・温度の軽減

JIS C5402-6-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−1部:動的ストレス試験−試験6a:加速度(定常)

JIS C5402-6-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−2部:動的ストレス試験−試験6b:バンプ

JIS C5402-6-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−3部:動的ストレス試験−試験6c:衝撃

JIS C5402-6-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第6−4部:動的ストレス試験−試験6d:正弦波振動

JIS C5402-10-4
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第10―4部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験―試験10d:電気的過負荷(コネクタ)

JIS C5402-11-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11-1部:耐候性試験−試験11a:一連耐候性

JIS C5402-11-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−2部:耐候性試験−試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス

JIS C5402-11-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−3部:耐候性試験−試験11c:高温高湿(定常)

JIS C5402-11-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−4部:耐候性試験−試験11d:温度急変

JIS C5402-11-5
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−5部:耐候性試験−試験11e:かびの成長

JIS C5402-11-6
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−6部:耐候性試験−試験11f:腐食,塩水噴霧

JIS C5402-11-7
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11―7部:耐候性試験―試験11g:混合ガス流腐食

JIS C5402-11-8
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11-8部:耐候性試験−試験11h:砂じん

JIS C5402-11-9
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−9部:耐候性試験−試験11i:高温

JIS C5402-11-10
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−10部:耐候性試験−試験11j:低温

JIS C5402-11-11
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−11部:耐候性試験−試験11k:減圧

JIS C5402-11-12
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−12部:耐候性試験−試験11m:温湿度サイクル

JIS C5402-11-13
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第11−13部:耐候性試験−試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続

JIS C5402-11-14
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11―14部:耐候性試験―試験11p:単一ガス流腐食

JIS C5402-12-6
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12-6部:はんだ付け試験−試験12f : 自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止

JIS C5402-12-7
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第12−7部:はんだ付け試験−試験12g:はんだ付け性,平衡法

JIS C5402-13-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第13-1部:機械的動作試験−試験13a:結合力及び離脱力

JIS C5402-14-7
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第14-7部:封止(気密性)試験−試験14g:噴射水

JIS C5402-15-8
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-8部:コネクタ試験(機械的試験)−試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性

JIS C5402-16-20
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16-20部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション)

JIS C5402-19-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第19-3部:耐化学薬品試験−試験19c:耐液性

JIS C5402-20-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第20−2部:耐火性試験−試験20b:耐火性

JIS C5402-23-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第23−3部:スクリーニング及びフィルタリング試験−試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果

JIS C5402-23-4
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第23―4部:スクリーニング及びフィルタリング試験―試験23d:時間領域での伝送線路の反射

JIS C5432
電子機器用丸形R01コネクタ

JIS C5410
高周波同軸コネクタ通則

JIS C5411
高周波同軸C01形コネクタ

JIS C5412
高周波同軸C02形コネクタ

JIS C5413
高周波同軸C03形コネクタ

JIS C5414
高周波同軸C04形コネクタ

JIS C5415
高周波同軸C05形コネクタ

JIS C5419
高周波同軸C11形コネクタ

JIS C5420
プリント配線板用コネクタ通則

JIS C5441
電子機器用スイッチの試験方法

JIS C5442
制御用小形電磁リレーの試験方法

JIS C5443
電子機器用スイッチ品目別通則

JIS C5444
電子機器用表面実装スイッチの試験方法

JIS C6560
単頭プラグ・ジャック


【 プリント配線板 】

JIS C5010
プリント配線板通則

JIS C5013
片面及び両面プリント配線板

JIS C5014
多層プリント配線板

JIS C5017
フレキシブルプリント配線板−片面・両面

JIS C6472
フレキシブルプリント配線板用銅張積層板−ポリエステルフィルム,ポリイミドフィルム

JIS C6480
プリント配線板用銅張積層板通則

JIS C6482
プリント配線板用銅張積層板―紙基材エポキシ樹脂

JIS C6483
プリント配線板用銅張積層板―合成繊維布基材エポキシ樹脂

JIS C6484
プリント配線板用銅張積層板―ガラス布基材エポキシ樹脂

JIS C6485
プリント配線板用銅張積層板−紙基材フェノール樹脂

JIS C6488
プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布・紙複合基材エポキシ樹脂銅張積層板

JIS C6489
プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布・ガラス不織布複合基材エポキシ樹脂銅張積層板

JIS C6490
プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材ポリイミド樹脂

JIS C6492
プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材ビスマレイミドトリアジン・エポキシ樹脂

JIS C6493
多層プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材ポリイミド樹脂銅張積層板

JIS C6494
多層プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材ビスマレイミド/トリアジン/エポキシ樹脂銅張積層板

JIS C6522
多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材エポキシ樹脂

JIS C6523
多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材ポリイミド樹脂

JIS C6524
多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材ビスマレイミド/トリアジン/エポキシ樹脂

JIS C6515
プリント配線板用銅はく


【 実装技術 】

JIS C61191-1
プリント配線板実装─第1部:通則─表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器及び電子機器用はんだ付け実装要求事項

JIS C61191-2
プリント配線板実装─第2部:部門規格─表面実装はんだ付け要求事項

JIS C61191-3
プリント配線板実装─第3部:部門規格─挿入実装はんだ付け要求事項

JIS C61191-4
プリント配線板実装─第4部:部門規格─端子実装はんだ付け要求事項


なお、JISハンドブック『電子T、U、V』には、参考として以下の資料が付属されています。

1. 電子関係のJIS 及び国際標準化の動き
2. 電子関連JIS 一覧
3. 電子関係団体一覧
4. ISO,IEC が発行する規格・出版物の著作権について(対訳)
主なSI 単位への換算率表




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